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介电常数介质损耗测试仪参数介绍

点击次数:199 发布时间:2019-06-24

 

介电常数介质损耗测试仪参数介绍

中航鼎力介电常数测定仪, LJD-C介电常数测试仪简介 满足标准:GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。

参数指标

 

 

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表

S916测试装置                           介电常数测试仪高频Q表

 

 
平板电容片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF
测微杆分辨率0.001mm主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)Q测试范围2~1023

 

介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据

 

 
线圈号测试频率Q值分布电容p电感值
9100KHz989.425mH
8400KHz13811.44.87mH
7400KHz202160.99mH
61MHz19613252μH
52MHz1988.749.8μH
44.5MHz231710μH
312MHz1936.92.49μH
212MHz2296.40.508μH
125MHz
50MHz
233
211
0.90.125μH

介电常数介质损耗(介质损耗角)测试仪 
 
型号:LJD-C

一.介电常数测试仪主要特点:
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 

二.介电常数测试仪主要技术特性:
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。


三.介电常数测试仪仪器技术指标:
☆Q值测量:
a.Q值测量范围:2~1023。              b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差

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